高低溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)箱
- 更新時(shí)間：2025-12-16
艾思荔高低溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)箱又名高低溫老化箱，適用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航空航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性。
| 品牌 | 艾思荔/Asli | 適用領(lǐng)域 | 大專院校 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 是 |
艾思荔高低溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)箱制冷機(jī)采用法國(guó)原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)。冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高 效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。
高低溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備型號(hào)：
型號(hào) HL-80
工作室尺寸 350×350×450
型號(hào)HL-400
工作室尺寸 600×800×850
溫度范圍 A型0～150℃、 B型-20～150℃、 C型-40～150℃、 D型-70～150℃
濕度范圍 30%～98%RH
高低溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)箱材質(zhì)：
外箱材質(zhì)：碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理
內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304不銹鋼鏡面光板
保溫材質(zhì)：聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡、超細(xì)玻璃纖維棉
門框隔熱：雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條
高低溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：
控制器：西門子PLC控制器、西門子彩色液晶顯示觸摸屏
精度范圍設(shè)定精度：溫度0.1℃，指示精度：溫度0.1℃
溫度傳感器：鉑金電阻 PT100Ω/MV
壓力傳感器： 電子式壓力變送器
加熱系統(tǒng)：全獨(dú)立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器
制冷系統(tǒng)：法國(guó)原裝“泰康”全封閉風(fēng)冷式單級(jí)/復(fù)迭壓縮機(jī)制冷方式
循環(huán)系統(tǒng)：耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
高低溫試驗(yàn)設(shè)備用途：
艾思荔可程式高低溫試驗(yàn)箱又名高低溫老化箱，適用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航空航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性。主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫、低溫、濕熱、條件下對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用
高低溫試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
GB10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2006高低溫試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件
GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.3-1993 試驗(yàn)Ca: 恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
